天眼查APP显示，近日，天津伟测半导体科技有限公司,上海伟测半导体科技股份有限公司申请的“一种结合全值仿真与二分法的电压Trim测试方法”专利公布。 摘要显示，本发明公开了一种结合全值仿真与二分法的电压Trim测试方法，本发明涉及半导体测试技术领域，通过查表法根据预存的修调码值与电压映射关系确定初始修调码值，以初始修调码值为基准划定修调码值子集，在子集范围内通过精确搜索法确定目标修调码值，精确搜索法包括全值仿真法和二分法两种实现方式，全值仿真法通过HDCTO板卡执行微指令测试pattern，遍历写入子集内各修调码值并同步采集电压数据，二分法通过迭代计算中间值、测量比较、更新区间的方式快速收敛至目标值，本发明融合查表法的快速定位优势与精确搜索法的高准确度优势，在保证测试准确度显著提升的同时，实现了高准确度与低时间成本的平衡。